D. Keith Bowen: ძიება ვებგვერდზე Z-Library

თავისუფალი წვდომა ცოდნასა და კულტურასთან.

Dear readers, unfortunately our support email is temporarily unavailable. We will restore it very soon. We apologize for the inconvenience.

When this message disappears, you can contact us again.

გამოყენებულია ფილტრები

ზუსტი შესაბამისობა

X-ray metrology in semiconductor manufacturing

CRC/Taylor & Francis

D. Keith Bowen, Brian K. Tanner

წელი:

2006

ენა:

english

ფაილი:

PDF, 10.48 MB

0 / 0

english, 2006

X-ray metrology in semiconductor manufacturing

CRC Press / Taylor & Francis

David Keith Bowen, Brian Keith Tanner

წელი:

2006

ენა:

english

ფაილი:

PDF, 8.99 MB

0 / 0

english, 2006

Intrinsically Disordered Protein Analysis: Volume 2, Methods and Experimental Tools

Springer-Verlag New York

Ucheor B. Choi, Keith R. Weninger, Mark E. Bowen (auth.), Vladimir N. Uversky, A. Keith Dunker (eds.)

წელი:

2012

ენა:

english

ფაილი:

PDF, 7.12 MB

0 / 5.0

english, 2012

Engineering Geology of Western United States Urban Centers: Los Angeles, California to Denver, Colorado June 27-July 7, 1989

American Geophysical Union

Jeffrey R. Keaton, Richard Morris, Joe Cobarrubias, John H. Hansen, Mike Hart, Bill Cotton, John Bell, Gary Christenson, Bill Lund, Tim Bowen, Jerry Higgins, Keith Turner, Jeff Hynes(auth.)

წელი:

1991

ენა:

english

ფაილი:

PDF, 5.62 MB

0 / 0

english, 1991

Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

Springer US

Eugene S. Meieran (auth.), Dr. Brian K. Tanner, Dr. D. Keith Bowen (eds.)

წელი:

1980

ენა:

english

ფაილი:

PDF, 18.06 MB

0 / 0

english, 1980

Advances in X-Ray Analysis: Volume 38

Springer US

Robert L. Snyder, Bin-Jiang Chen (auth.), Paul K. Predecki, D. Keith Bowen, John V. Gilfrich, Charles C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Deane K. Smith (eds.)

წელი:

1995

ენა:

german

ფაილი:

PDF, 51.07 MB

0 / 0

german, 1995